Die Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM) sowie Systeme für die Elektronenstrahllithografie und hochauflösende SEM-Messsysteme bilden die Basis für eine breite Produktpalette der Firma Raith im Bereich der Monofabrikation und des Nano-Engineerings sowie der Forschung auf dem Gebiet der Nanostrukturen und der Nanolithografie.
